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日立SU3900扫描电子显微镜

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最后更新: 2021-09-04 13:09
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详细说明
日立SU3900扫描电子显微镜通过更换样品提示,可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品。

详细介绍

①SU3900扫描电子显微镜标配多功能超大样品仓,可应对大型样品的观察

■样品台可搭载超大/超重样品

  • 通过更换样品提示,可防止由于与样品的接触而损坏设备或样品

  • 选配样品交换仓,可在主样品仓保持真空的状态下快速更换样品,大大提高了工作效率

  • 具备样品台移动限制解除功能,提高了自由度*

  • 红外CCD探测器,提高了样品台移动的安全性

■支持全视野移动。SEM MAP支持超大样品的全视野观察

  • 与GUI联合,可配备样品仓室导航相机

  • 覆盖整个可观察区域

  • 支持360度旋转

su3800_01.jpg

②随着各种自动化功能的强化,操作性能得到了进一步优化。

■一个鼠标就能够轻松操作的简约GUI

■各种自动化功能

  • 自动调整算法经改良后,等待时间减少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)

  • 提高了自动聚焦精度

  • 搭载Intelligent Filament Technology(IFT)

■Multi Zigzag,可实现多区域的大视野观察

■Report Creator,可利用获得的数据批量生成数据报告

 

③可提供满足测试需求的应用解决方案

■可满足多种观察需求的探测器

  • 搭载高灵敏度UVD*,支持CL观察

  • 高灵敏度半导体式背散射电子探测器,切换成分/凹凸等多种图像

■配备了多功能超大样品仓,可以搭载多种配件

>■SEM/EDS一体化功能*

■三维显示测量软件 Hitachi Map 3D*

■支持图像测量软件Image pro

 

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